直读光谱仪(OES)——金属分析理想工具

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为什么日立直读光谱仪非常适用于铝分析
来源: | 作者:明阳机电 | 发布时间: 2025-07-15 | 55 次浏览 | 分享到:
铝因能与许多材料形成合金而用于多个行业,尤其适用于重视轻量化的行业,但制造铝铸件过程困难,需控制熔体中的元素,最有效方法是用直读光谱仪分析。日立 OE720 和 OE750 直读光谱仪可在低检出限下检测磷和锑等元素,其光学系统有更高级别光学分辨率,CMOS 检测器技术能在极低检出限下检测多种元素,可检测近共晶和过共晶铝硅合金中低至 20ppm 的磷,控制多种元素含量确保最佳结构改进,能验证铝熔体中杂质元素是否符合最大总量。OE750/OE720 安装简便,分析性能高、性价比无与伦比,是金属加工企业理想的高性能仪器,OE750 还能测氢、氧、氮气体元素,能提供更可靠结果、减少分析时间,简化分析过程。日立还为不同检测需求推出其他直读光谱仪

摘要       

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因为铝能与许多材料形成合金,因此被用于许多不同的行业,如建筑、交通运输和食品。多功能性和轻质性使得铝及其合金特别适用于重视轻量化的行业,如汽车和航空航天。


然而制造铝铸件的过程十分困难。若想要让最终的材料具备所需的性能,则必须注意控制熔体中的元素。最有效的熔体控制方法是使用直读光谱仪(OES)进行分析。然而,并非所有的直读光谱仪都具有相同的性能,必须格外注意铝,因为某些分析仪可能检测不出一些必须被控制在极低限值的元素。

通常需要专业仪器才能检测的元素,如磷和锑,可以通过日立 OE720 和 OE750 在低检出限下对其进行检测。

   直读光谱仪     

日立直读光谱仪的低检出限对于铝熔炼控制非常重要


OE720 和 OE750 直读光谱仪的光学系统提供了更高级别的光学分辨率,CMOS检测器技术可确保在极低检出限下检测多种元素。这意味着,可以在近共晶和过共晶铝硅合金中检测出含量低至20ppm的磷,并且可以控制锑、铋、锂、锶和钠的含量,以确保最佳的结构改进。


这一高性能功能使用户能够验证铝熔体中的杂质元素磷、钙、铋和锑是否符合120ppm的最大总量。


OE750/OE720是一款金属加工企业最理想的高性能仪器。

您只需连接氩气,通过USB口连接电脑,即可完成仪器的安装

能提供非常高的分析性能和无与伦比的性价比

为检测行业及金属相关企业量身定制的稳定和高精确的分析手段;

其中OE750还能测出氢、氧、氮气体元素。

OE750不仅能提供更可靠的结果,还能减少分析时间,由此节省关键的生产时间。与其他仪器相比,OE750能缩短样品制备时间和分析时间,并提供直观易用的程序界面,由此进一步简化了分析过程。


日立直读光谱仪还为不同客户检测需求,推出有直读光谱仪FOUNDRY-MASTER Smart、PMI-MASTER Smart、PMI-MASTER Pro2