牛津仪器拥有一系列应用于几乎所有金属表面厚度检测的涂镀层测厚仪，既能检测铁基材料也能检测非铁基材料。

牛津仪器镀层测厚仪是基于X射线荧光技术所开发，可快速提供单层或多层分析，对合金成分进行定量分析，优化电镀液控制的金属离子含量分析。

镀层测厚仪的典型应用包括汽车制造、油漆和粉末涂料制造、电镀厂与PCB面铜管铜测厚。

牛津仪器镀层测厚仪不仅仅有检测精度极高的台式X荧光光谱仪Eco系列、MAXXI 系列、X-Strata 920，还有方便易用的便携式CMI 系列镀层测厚仪。

牛津仪器镀层测厚仪功能强大、性能可靠且操作简单，基于能量色散型X射线荧光光谱（XRF）所开发，可确保品质的同时降低成本。